통합 시험
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1. 개요
통합 시험은 주요 설계 항목들이 기능, 성능, 안정성 요구사항을 제대로 구현하는지 검증하는 것을 목적으로 한다. 빅뱅, 혼합형(샌드위치), 위험-가장 어려운 것, 하향식 및 상향식 방식 등 다양한 접근 방식이 존재하며, 협업 통합, 백본 통합, 계층 통합 등의 통합 패턴도 활용된다. 샌드위치 시험은 하향식과 상향식 시험을 결합한 방식이다.
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2. 목적
통합 시험의 목적은 주요 설계 항목들이 기능, 성능, 안정성 요구사항을 잘 구현하고 있는지를 검증하는 것이다. "설계 항목들" 즉 통합된 모듈 그룹들은 노출되어 있는 인터페이스에 정상적인 입력 데이터나 비정상적인 오류 입력 데이터를 넣어보는 블랙박스 검사 기법으로 테스트된다.
통합 시험의 몇 가지 유형으로는 빅뱅, 혼합형(샌드위치), 위험-가장 어려운 것, 하향식 및 상향식 방식이 있다.[3] 다른 통합 패턴[3]으로는 협업 통합, 백본 통합, 계층 통합, 클라이언트-서버 통합, 분산 서비스 통합 및 고주파수 통합이 있다.
3. 접근 방식
빅뱅 시험에서는 개발된 대부분의 모듈을 결합하여 완전한 소프트웨어 시스템 또는 시스템의 주요 부분을 형성한 다음 통합 시험에 사용한다.[3][6] 이 방법은 통합 시험 프로세스에서 시간을 절약하는 데 매우 효과적이다.[3][6] 그러나 테스트 케이스와 그 결과가 제대로 기록되지 않으면 전체 통합 프로세스가 더 복잡해지고 시험 팀이 통합 시험의 목표를 달성하는 데 방해가 될 수 있다.[3][6]
상향식 시험에서는 가장 낮은 수준의 구성 요소를 먼저 테스트한 다음 더 높은 수준의 구성 요소 테스트를 용이하게 하는 데 사용한다. 이 프로세스는 계층 구조의 맨 위에 있는 구성 요소가 테스트될 때까지 반복된다.[3] 모든 하위 또는 하위 수준 모듈, 프로시저 또는 기능이 통합된 다음 테스트된다. 하위 수준 통합 모듈의 통합 시험 후 다음 수준의 모듈이 형성되어 통합 시험에 사용할 수 있다. 이 접근 방식은 동일한 개발 수준의 모든 또는 대부분의 모듈이 준비된 경우에만 유용하다. 이 방법은 또한 개발된 소프트웨어의 수준을 결정하는 데 도움이 되며 백분율 형태로 시험 진행 상황을 보고하기 쉽게 해준다.[3]
하향식 시험에서는 가장 상위 통합 모듈을 먼저 시험하고 관련 모듈이 끝날 때까지 모듈의 분기를 단계별로 시험한다.[3]
샌드위치 시험은 하향식 시험과 상향식 시험을 결합한다.[3] 이러한 종류의 시험의 한계는, 설계 항목의 실행 확인 외에, 지정된 통합 시험에 명시되지 않은 조건은 일반적으로 시험되지 않는다는 것이다.[3]
3. 1. 빅뱅 (Big Bang) 방식
빅뱅 시험에서는 개발된 대부분의 모듈을 결합하여 완전한 소프트웨어 시스템 또는 시스템의 주요 부분을 형성한 다음 통합 시험에 사용한다.[3][6] 이 방법은 통합 시험 프로세스에서 시간을 절약하는 데 매우 효과적이다.[3][6] 그러나 테스트 케이스와 그 결과가 제대로 기록되지 않으면 전체 통합 프로세스가 더 복잡해지고 시험 팀이 통합 시험의 목표를 달성하는 데 방해가 될 수 있다.[3][6]
3. 2. 상향식 (Bottom-up) 방식
상향식 시험에서는 가장 낮은 수준의 구성 요소를 먼저 테스트한 다음 더 높은 수준의 구성 요소 테스트를 용이하게 하는 데 사용한다. 이 프로세스는 계층 구조의 맨 위에 있는 구성 요소가 테스트될 때까지 반복된다.[3][6] 모든 하위 또는 하위 수준 모듈, 프로시저 또는 기능이 통합된 다음 테스트된다. 하위 수준 통합 모듈의 통합 시험 후 다음 수준의 모듈이 형성되어 통합 시험에 사용할 수 있다. 이 접근 방식은 동일한 개발 수준의 모든 또는 대부분의 모듈이 준비된 경우에만 유용하다. 이 방법은 또한 개발된 소프트웨어의 수준을 결정하는 데 도움이 되며 백분율 형태로 시험 진행 상황을 보고하기 쉽게 해준다.[3][6]
3. 3. 하향식 (Top-down) 방식
하향식 시험에서는 가장 상위 통합 모듈을 먼저 시험하고 관련 모듈이 끝날 때까지 모듈의 분기를 단계별로 시험한다.[3][6] 최상위 모듈부터 시작하여 하위 모듈로 점차적으로 통합해 가면서 시험하는 방식이다.
3. 4. 샌드위치 (Sandwich) 방식
샌드위치 시험은 하향식 시험과 상향식 시험을 결합한 방식이다.[3][6] 이러한 종류의 시험의 한계는, 설계 항목의 실행 확인 외에, 지정된 통합 시험에 명시되지 않은 조건은 일반적으로 시험되지 않는다는 것이다.[3][6]
3. 5. 기타 통합 패턴
통합 시험에는 협업 통합, 백본 통합, 계층 통합, 클라이언트-서버 통합, 분산 서비스 통합, 고주파수 통합 등 다양한 패턴이 존재한다.[3][6]
4. 한계
참조
[1]
서적
ISO/IEC/IEEE International Standard - Systems and software engineering
ISO/IEC/IEEE 24765:2010(E)
[2]
서적
Testing in Software Development
https://books.google[...]
BCS
2014-10-31
[3]
서적
Testing Object-Oriented Systems: Models, Patterns, and Tools
Addison Wesley
[4]
서적
ISO/IEC/IEEE International Standard - Systems and software engineering
ISO/IEC/IEEE 24765:2010(E)
[5]
서적
Testing in Software Development
https://books.google[...]
BCS
2014-10-31
[6]
서적
Testing Object-Oriented Systems: Models, Patterns, and Tools
Addison Wesley
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