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45 nm 공정

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1. 개요

45 nm 공정은 반도체 제조 기술의 한 종류로, 2007년을 기준으로 인텔을 비롯한 여러 기업에서 high-κ 유전체 및 금속 게이트 기술을 도입하여 누설 전류를 줄이는 데 기여했다. 이 공정은 45 nm SRAM 셀 개발 경쟁을 거쳐, 마쓰시타, 인텔, AMD 등에서 프로세서 및 시스템 온 칩(SoC) IC 등의 상용 제품에 적용되었다. 인텔은 45 nm 공정의 특징으로 160 nm 게이트 피치, 35 nm 게이트 길이 등을 발표했으며, 2010년에는 Xbox 360 S와 플레이스테이션 3 슬림 모델에도 적용되었다.

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45 nm 공정
45 nm 공정
45nm 트랜지스터 단면
45nm 트랜지스터 단면
기술 세대
기술 세대45 nm
이전65 nm
다음32 nm
도입 시기
도입 시기2007년

2. High-κ 유전체 및 기술 발전

반도체 제조업체들은 초기에 누설 전류 밀도를 줄이기 위해 게이트 스택에 새로운 high-κ 물질을 도입하는 것에 대해 우려를 표명했다. 그러나 2007년 기준으로 IBM인텔 모두 고유전율 물질 및 금속 게이트 솔루션을 발표했으며, 인텔은 이를 트랜지스터 설계의 근본적인 변화로 간주했다.[1] NEC도 고유전율 물질을 생산에 투입했다.

2. 1. 기술 시연


  • 2004년, TSMC는 0.296제곱마이크로미터의 45nm SRAM 셀을 시연했다.[2]
  • 2006년 1월, 인텔은 0.346제곱마이크로미터의 45nm 노드 SRAM 셀을 시연했다.
  • 2006년 4월, AMD는 0.370제곱마이크로미터의 45nm SRAM 셀을 시연했다.
  • 2006년 6월, 텍사스 인스트루먼트는 액침 리소그래피의 도움을 받아 0.24제곱마이크로미터의 45nm SRAM 셀을 처음 선보였다.
  • 2006년 11월, UMC는 액침 리소그래피와 저유전율 유전체를 사용하여 0.25제곱마이크로미터 미만의 셀 크기를 가진 45nm SRAM 칩을 개발했다고 발표했다.

3. 상용화 및 주요 적용 제품

마쓰시타는 2007년 6월에 45nm 공정 기술을 기반으로 디지털 소비자 장비용 시스템 온 칩 (SoC) IC의 대량 생산을 시작했으며, 같은 해 10월에 45nm 유니피어를 출시했다.[12]

2010년에는 Xbox 360 S에 45nm 공정의 제논 프로세서가 탑재되었고,[6] 플레이스테이션 3 슬림 모델은 45nm 공정의 Cell Broadband Engine을 도입했다.[7]

이 외에도 삼성 S5PC110 (허밍버드), 텍사스 인스트루먼트 OMAP 36xx, IBM POWER7, IBM z196, Wii U의 에스프레소 CPU 등이 45nm 공정으로 제조되었다.

3. 1. 인텔

인텔은 2007년 11월에 첫 번째 45nm 프로세서인 제온 5400 시리즈를 출시했다.[4] 인텔 개발자 포럼에서 2007년 4월 Penryn에 대한 많은 세부 사항이 공개되었다. 후속 제품은 네할렘이라고 불린다. 중요한 발전으로는 새로운 명령어(SSE4 포함, Penryn New Instructions라고도 함) 및 새로운 제조 재료(가장 중요한 것은 하프늄 기반 유전체)의 추가가 있다. 인텔의 45nm 공정은 제곱 밀리미터당 333만 개의 트랜지스터(MTr/mm2)의 트랜지스터 밀도를 가진다.[5]

45nm 공정을 사용한 인텔 제품은 다음과 같다.

3. 2. AMD

AMD는 2008년 말에 45nm 공정 기술을 사용하여 Sempron II, Athlon II, Turion II, Phenom II (일반적으로 성능 순으로 증가) 및 상하이 Opteron 프로세서를 출시했다.[4]

  • AMD 투반(페넘 II), 칼리스토, 헤카, 프로푸스, 데네브, 조스마(페넘 II), 상하이(옵테론) 쿼드 코어 프로세서, 레고르(애슬론 II) 듀얼 코어 프로세서, 카스피안(투리온 II) 모바일 듀얼 코어 프로세서가 45nm 공정으로 제작되었다.[https://www.amd.com/us-en/0,,3715_15503,00.html?redir=45nm01]

3. 3. 기타

4. 인텔 45nm 공정의 특징 (2007 IEDM 발표)

2007년 IEDM에서 발표된 인텔의 45 nm 공정의 주요 특징은 다음과 같다.


  • 160 nm 게이트 피치 (65 nm 세대의 73%)
  • 200 nm 절연 피치 (65 nm 세대의 91%), 트랜지스터 사이의 절연 거리 축소 둔화
  • 더미 구리 금속 및 더미 게이트 광범위한 사용[8]
  • 35 nm 게이트 길이 (65 nm 세대와 동일)
  • 1 nm 등가 산화막 두께, 0.7 nm 전이층 포함
  • 더미 폴리실리콘 및 다마신 금속 게이트를 사용한 게이트-후(Gate-last) 공정
  • 두 번째 포토레지스트 코팅을 사용하여 게이트 끝 부분 정사각형화[9]
  • 9개의 탄소 도핑 산화물 층과 구리 상호 연결, 마지막 층은 두꺼운 "재분배" 층임
  • 국소 상호 연결을 위해 원보다 직사각형에 가까운 모양의 접점
  • 무연 패키징
  • 1.36 mA/μm nFET 구동 전류
  • 1.07 mA/μm pFET 구동 전류 (65 nm 세대보다 51% 빠름, 임베디드 SiGe 스트레서에서 Ge 함량이 23%에서 30%로 증가하여 홀 이동도가 더 높음)


이 공정에서는 침수 리소그래피가 사용되지 않아 리소그래피 패터닝이 더 어렵다. 따라서 라인 절단 이중 패터닝 방법이 명시적으로 사용되었다. 또한 게이트 누설 문제를 해결하기 위해 high-κ 유전체 유전체가 처음으로 사용되었다.[1] 32 nm 노드부터는 인텔에서 침수 리소그래피가 사용되기 시작했다.

2008년 Chipworks의 역설계[10]에 따르면, 트렌치 접점은 국소 상호 연결 역할을 하는 텅스텐의 "Metal-0" 층으로 형성되었다. 대부분의 트렌치 접점은 확산을 덮는 게이트에 평행하게 배치된 짧은 선이었고, 게이트 접점은 게이트에 수직으로 배치된 훨씬 더 짧은 선이었다.

네할렘아톰 마이크로프로세서는 전압 스케일링을 더 잘 수용하기 위해 기존 6개 대신 8개의 트랜지스터를 포함하는 SRAM 셀을 사용했다.[11] 이로 인해 면적이 30% 이상 증가했다.

참조

[1] 웹사이트 IEEE Spectrum: The High-k Solution https://web.archive.[...] 2007-10-25
[2] 웹사이트 40nm Technology https://www.tsmc.com[...] TSMC 2019-06-30
[3] 웹사이트 History https://www.samsung.[...] Samsung 2019-06-19
[4] 웹사이트 Report on Penryn Series Improvements. http://www.intel.com[...] Intel 2006-10
[5] 웹사이트 Intel's 10nm Cannon Lake and Core i3-8121U Deep Dive Review https://www.anandtec[...]
[6] 웹사이트 New Xbox 360 gets official at $299, shipping today, looks angular and ominous (video hands-on!) https://www.engadget[...] AOL Engadget 2010-06-14
[7] 웹사이트 Sony answers our questions about the new PlayStation 3 https://arstechnica.[...] Ars Technica 2009-08-18
[8] 웹사이트 Intel Pushes Lithography Limits, Part II https://archive.toda[...]
[9] 웹사이트 Intel 45 nm process at IEDM https://web.archive.[...] 2008-09-02
[10] 웹사이트 analysis https://web.archive.[...] 2008-03-15
[11] 웹사이트 8T SRAM used for Nehalem and Atom http://www.anandtech[...]
[12] 뉴스 Panasonic starts to sell a New-generation UniPhier System LSI http://panasonic.co.[...] Panasonic 2019-07-02



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